費思FTI5000系列FTI5010-10000保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5010-10000保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產品設計的專業測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465....
費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產品設計的專業測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1...
費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產品設計的專業測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-...
致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀 參考價：面議
致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀產品特色：●測試參數:Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, C...
Tektronix泰克S530/S540 /S500參數測試系統 參考價：面議
Tektronix泰克S530/S540 /S500參數測試系統產品簡介：帶有 KTE 7 軟件的吉時利 S530 系列參數測試系統提供高速、靈活的配置，能夠隨...
吉時利Keithley4200A-SCS半導體參數分析儀 參考價：面議
吉時利Keithley4200A-SCS半導體參數分析儀（參數測試儀）加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-...
功率半導體參數測試系統 參考價：面議
LET-SP802功率半導體參數測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。LET-SP802...
半導體動態參數測試系統 參考價：面議
半導體動態參數測試系統硬件優勢:1. 采用先發布的12 bit 示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數2. 采用先發布的光隔離、高CMRR探頭系統，解決S...
半導體靜態參數測試系統 參考價：面議
LET-5000半導體靜態參數測試系統是一款測量與分析功率靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率器件提供靜態參數測量解決方案。
IGCT自動測試系統 參考價：面議
IGCT自動測試系統核心是安規及導通性能測試的訂制化標準測試平臺，其核心是采用了各種儀器儀表（萬用表、內阻測試儀、安規測試儀、電源等）和繼電器板卡、配合測試機柜...
第三代功率半導體器件動態可靠性測試系統 參考價：面議
KC-3105 第三代功率半導體器件動態可靠性測試系統中可同時完成HTRB和DHTRB測試，整體架構模塊化，通訊協議、通訊接口等采用統一標準，便于后期擴展和維護...
功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室) 參考價：面議
KC3110功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發。本系統可以在...
功率半導體高精度靜態特性測試系統(生產端) 參考價：面議
KC3111功率半導體高精度靜態特性測試系統（生產端），基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發。脈沖信號源輸...
功率半導體動態參數測試系統 參考價：面議
KC3120功率半導體動態參數測試系統可針對各類型 GaN、Si基及SiC基二極管、 MOSFET、IGBT 等分立器件的各項動態參數測試，如開通時間、關斷時間...
IOL間歇壽命試驗系統HK-IOL-16H 參考價：面議
測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進行連續工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復開啟和關閉引起的反復高溫...
IGBT/SIC模塊功率循環試驗系統 參考價：面議
IGBT/SIC模塊功率循環試驗系統華科智源-功率循環老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現IGBT封裝的主要兩種失效方...
SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000 參考價：面議
SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000功能及主要參數： 適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時間參數測試。
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀 參考價：面議
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀設備擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系...
MOS管動態參數測試儀ITC57300 參考價：面議
MOS管動態參數測試儀ITC57300ITC57300是美國ITC公司設計生產的高集成度功率半導體分立器件動態參數測試設備，采用測試主機+功能測試頭+個性板的測...
大功率IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1200A-MT 參考價：面議
大功率IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1200A-MT華科智源IGBT電參數測試儀，可用于多種封裝形式的IGBT的測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊...
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224 參考價：面議
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224該設備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態參數測試，以表征器件的動態特性，通過特制測試夾具的連接，實...
IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1600A-MT 參考價：面議
IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1600A-MT華科智源功率器件測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態參數，并生產器件傳輸曲線和轉移曲線，...
博達微FS-Pro半導體參數測試系統 參考價：面議
博達微FS-Pro半導體參數測試系統是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設備，在一個系統中實現了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、...
吉時利全自動半導體參數分析儀 參考價：面議
吉時利全自動半導體參數分析儀4200A-SCS參數分析儀加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能...
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